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中国科学院大连化学物理研究所专利：基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法
中国科学院大连化学物理研究所 专利 HF 第一泛频 发射光谱 温度测量
2023/12/28
基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。本发明属于温度测量技术领域。本发明的目的是为了解决HF化学激光器超音速流场的温度测量问题，而提出的一种基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。该方法用近红外光谱仪对HF第一泛频发射光谱信号进行测量，然后用HF第一泛频发射光谱的振-转强度分布公式对所得数据进行数值拟合，从而计算出测量体系的温度。该方法可应用于HF化学激光流场的不同位置（喷管出口、光腔以及光腔下...