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The frequency response characteristics of semiconductor devices play an essential role in the high-speed operation of electronic devices. We investigated the temperature dependence of dynamic characte...
会议简介 TEMPBEIJING 2008国际温度与热物性测量会议将于2008年10月20日至23日在北京召开。本次会议由中国计量科学研究院主办,中国计量测试学会协办。1997年在北京成功举办了国际温度大会,距今已十年之久。 TEMPBEIJING 2008将为从事温度计量和相关研究及热物性测量研究的专家、学者和技术人员提供一个难得的交流平台与学习的机会,来自世界各...

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