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搜索结果: 1-3 共查到分析化学 SiO2相关记录3条 . 查询时间(0.14 秒)
通过溶胶-凝胶技术制备了稀土离子Tb3+和Na2WO4共掺杂的SiO2材料,利用DTA-TG,IR,XRD等测试手段研究了材料的结构。材料属于非晶态,800 ℃退火后Tb3+和Na2WO4共掺杂样品的主要结构为SiO2的网状结构。通过三维荧光光谱,荧光激发光谱和发射光谱,分析探讨了Na2WO4对掺稀土离子的SiO2体系发光性质的影响。结果显示, 在230 nm激发下,样品显示Tb3+的5D4—7F...
以正硅酸乙酯为原料,采用溶胶-凝胶法,结合旋转涂胶、超临界干燥工艺在硅片上制备了纳米多孔SiO2薄膜。XRD表明薄膜为无定形态;SEM显示薄膜具有多孔网络结构,其SiO2粒子直径为10~20 nm。利用FTIR研究了薄膜的结构,纳米多孔SiO2薄膜含有Si—O—SiSi—OR结构,呈疏水性;该SiO2薄膜热处理后因含有Si—OH基团而呈吸水性;用三甲基氯硅烷对热处理SiO2薄膜进行修饰可使其呈疏...
介绍了硅基片上具有微米厚度的SiO2膜在斜入射情况下的红外反射透过谱测量结果,发现在900~1 250 cm-1波段内的结果有别于一般的透射谱,出现了峰位基本不变的1 100 cm-1反射峰。随厚度增大,1 100 cm-1峰和1 200 cm-1凹谷的降低逐渐变为迟缓。当厚度达到2 μm以上后,1 075~1 250 cm-1谱线的变化已不再明显。通过分析表明,结果中包含了SiO2膜的表面反射谱...

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