搜索结果: 1-2 共查到“光学 ITO”相关记录2条 . 查询时间(0.117 秒)
ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
XPS Rubrene 化学位移 界面态
2014/3/16
采用原子力显微镜（AFM）和X射线光电子能谱仪（XPS）研究了氧化铟锡（ITO）/红荧烯（Rubrene）的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示，ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰，位于282.50，284.70，289.30 eV，对应于C—Si、C O和C—C键。用氩离子束溅射表面，芳香碳对应的峰值逐渐增大，其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除...