工学 >>> 电子科学与技术 >>> 半导体技术 >>> 半导体测试技术 >>>
搜索结果: 1-3 共查到国际动态 半导体测试技术相关记录3条 . 查询时间(2.254 秒)
由日本京都大学科研人员负责的产学协同软错误研究团队,开发了一种可使用不同中子源获取半导体软错误率的方法。
英国《自然·纳米技术》杂志10月11日在线发表论文称,科学家们利用飞秒技术首次成功拍摄到半导体材料内部电子状态变化。该成果将提供对半导体核心器件前所未有的洞察。自20世纪后期以来,半导体器件技术进步集中且明显,譬如晶体管、二极管以及太阳能电池等。这些器件的核心,正是电子在半导体材料中进行的内部运动,然而,由于电子的速度极快,测量电子运动是一个重大难题。一直到2008年,瑞典科学家才运用具有超短和超...
美国和中国研究人员2014年5月5日在美国《国家科学院学报》上报告说,他们开发出一种基于半导体芯片测序仪的无创产前诊断方法,可以根据孕妇血样检测出胎儿是否患唐氏综合征等与染色体异常有关的先天缺陷。

中国研究生教育排行榜-

正在加载...

中国学术期刊排行榜-

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-

正在加载...

中国大学排行榜-

正在加载...

人 物-

正在加载...

课 件-

正在加载...

视听资料-

正在加载...

研招资料 -

正在加载...

知识要闻-

正在加载...

国际动态-

正在加载...

会议中心-

正在加载...

学术指南-

正在加载...

学术站点-

正在加载...