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光电探测器件的发展要求不断提高探测精度和深化探测维度。偏振光电探测器件除了能够探测光的强度和波长，还能够实现对光偏振方向的响应，可显著提升成像效果和对物体的探测能力，在地质遥感、军事探测、机器视觉等方面具有十分重要的应用价值。利用半导体材料本征结构各向异性来构筑偏振探测器件有望解决传统偏振光电探测系统体积大、结构复杂等方面的问题，在实现器件小型化、集成化等方面具有独特优势。