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搜索结果: 1-1 共查到“矿床学与矿相学 Ｘ射线荧光光谱法”相关记录1条 . 查询时间(0.134 秒)
采用粉末压片法制样，选用标准样品，以经验α系数和散射线内标法校正基体效应和元素谱线重叠干扰，使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对一般地质样品中的铌、钽、锆、铪、铈、镓、钪、铀等稀有元素进行测定，分析结果与标准值和参考值吻合，12次测定的相对标准偏差(RSD)小于10%。

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