搜索结果: 1-15 共查到“地质学 Ｘ射线荧光光谱法”相关记录22条 . 查询时间(0.162 秒)
薄膜吸附制样-波长色散X射线荧光光谱法测定卤水中的溴
卤水 溴 薄膜吸附 X射线荧光光谱法
2015/12/22
溴主要以离子形式分布在地壳水圈的溴化物型卤水、卤化物硫酸盐型卤水中, 目前应用波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)测定卤水中的溴, 主要采用粉末载体压片法前处理待检样品, 制样工作量大, 制样均匀性和制样过程中的污染都会影响准确度, 方法实用性不强。本文借助薄膜吸附前处理卤水样品, 通过优化筛选薄膜材料及卤水取样量, 确定移取50 μL卤水样品滴于Ф=40 mm的3#层析滤纸的圆心位置, 自然晾干...
熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素
石膏 主次量元素 硫 四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂 X射线荧光光谱法
2015/8/6
X射线荧光光谱法(XRF)已经应用于石膏等非金属矿物的测定,但由于石膏标准物质匮乏、硫含量较高且在高温易挥发损失,给测定带来了一定困难。本文采用石膏标准物质、高纯硫酸钙和其他国家一级标准物质(土壤、水系沉积物、碳酸盐)配制人工标准物质拟合校准曲线,优化稀释比、熔矿温度等熔融制样条件,用理论α系数校正基体效应,建立了采用XRF同时测定石膏矿中10个主次量元素(硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶)的分析方法。样品与...
X射线荧光光谱法测定土壤样品中碳氮硫氯等31种组分
X射线荧光光谱法 多元素测定 粉末压片 土壤
2014/6/20
利用新型的ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪采用粉末压片法直接测定土壤样品中的C、N、S、Cl等31种元素。各元素分析晶体为N采用RX45，C采用RX61，Na、Mg采用RX25，C1、S、P采用Ge，Si、Al采用PET，其余元素均采用LiF200。结果表明，方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言，均可满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求。
珍珠岩矿的化学成分对其膨胀特性有重要影响,是珍珠岩矿的重要质量指标,目前大多采用容量法、重量法、分光光度法、原子吸收光谱法等传统方法对各化学成分进行测定,操作复杂,而且不能满足主量元素同时测定的要求.本文采用熔融法制样,建立了X射线荧光光谱同时测定珍珠岩矿中主量元素(Si、Al、Fe、Ca、Mg、Ti、K、Na)的分析方法.样品制备试验结果表明,试样与四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比67:33)混合熔剂...
较低稀释比熔融制样X射线荧光光谱法分析铬铁矿
铬铁矿 X射线荧光光谱法 熔融制样 20：1稀释比
2014/5/27
铬铁矿属难熔矿物,目前对铬铁矿的分析以化学分析为主,方法成熟,但操作麻烦且步骤繁琐;而应用X射线荧光光谱法进行分析测定,一般都采用较高稀释比熔融制样,不利于低含量元素的测定。本文选用四硼酸锂+偏硼酸锂作为混合熔剂,与样品以20:1的稀释比熔融制样,利用波长色散X射线荧光光谱测定铬铁矿中多种元素(Cr、Si、Al、TFe、Mg、Ca、Mn)的方法。采用多种铬铁矿标准物质和人工配制标准物质制作工作曲线...
偏振能量色散X射线荧光光谱法测定硫化物矿石中的铜铅锌
硫化物矿石 铜 铅 锌 偏振能量色散X射线荧光光谱法 溶液法 酸消解
2014/5/27
X射线荧光光谱法用于分析矿石主成分的常规制样方法有粉末压片法与玻璃熔融法,但分析硫含量高的地质样品时,前者存在矿物效应和粒度效应问题、后者可能腐蚀贵金属坩埚。为满足矿产勘查的需要,急需一种适应于硫化物矿石主成分分析的制样方法。本文建立了一种硝酸+氢氟酸封闭消解试样,标准溶液校准,偏振能量色散X射线荧光光谱(PE-EDXRF)同时测定硫化物样品中铜、铅、锌三种元素的分析方法。用GBW 07162~G...
用百分总和检查硅酸盐岩石全分析数据的质量是分析工作者的传统做法,但对于微量元素含量较高的样品,采用X射线荧光光谱法(XRF)进行测定,如果不考虑微量元素的含量及其对主量元素基体效应的影响,往往会使主量元素含量更加偏离真实值。本文针对Sr、Ba含量较高的硅酸盐样品,通过人工配制标准样品,扩大了Sr、Ba校准曲线的定量范围,主量元素校准中加入Sr、Ba的基体校正系数,达到了主量元素定量更加准确可靠的实...
粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定进口铜矿石中的氟
进口铜矿石 氟 粉末压片制样 X射线荧光光谱法
2014/5/30
地质样品中氟的测定主要采用氟离子选择电极法,但操作复杂、分析时间长,无法满足大量进口铜矿石检测的需求。熔融制样-X射线荧光光谱法可用于测定铜矿石中的主次量成分,但不能测定氟。本文采用粉末压片制样,波长色散X射线荧光光谱测定进口铜矿石中氟的含量。以15个粒度为0.074 mm的实际进口铜矿石样品建立标准曲线,经验系数法校正基体效应,有效地降低了颗粒度效应、矿物效应和基体效应。方法的精密度为0.30%...
X射线荧光光谱法同时测定地质样品中铌钽锆铪铈镓钪铀等稀有元素
X射线荧光光谱法 稀有元素 粉末压片 地质样品
2014/6/16
采用粉末压片法制样，选用标准样品，以经验α系数和散射线内标法校正基体效应和元素谱线重叠干扰，使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对一般地质样品中的铌、钽、锆、铪、铈、镓、钪、铀等稀有元素进行测定，分析结果与标准值和参考值吻合，12次测定的相对标准偏差(RSD)小于10%。
滤纸制样X射线荧光光谱法测定矿石中的多元素
X射线荧光光谱法 滤纸吸附 制样 矿石
2014/6/16
建立了滤纸制样，以钴作内标，X射线荧光光谱测定矿石中铁、铜、铅、锌的方法。将淀粉压制成环，作为滤纸的底托，取一定量的分析溶液滴加到淀粉底托的滤纸上，将底托和滤纸放入烘箱，在50℃低温烘干，将淀粉底托和滤纸压制成形，待X射线荧光光谱仪测量。铁、铜、铅、锌的相对标准偏差（RSD，n=11）均小于5%。用国家一级标准物质验证，测量值与标准值吻合。方法操作简单、方便、快速。
波长色散X射线荧光光谱法同时测定钨精矿中主次量组分
X射线荧光光谱法 熔融制样 主次量组分 钨精矿
2014/6/13
建立了采用波长色散X射线荧光光谱测定钨精矿中三氧化钨、锰、铁、氧化钙、二氧化硅、锡、钼、铜、铋、铅、锑、锌、镉、铬等14个主次量组分的方法。采用四硼酸钠和四硼酸锂混合熔剂熔融制样，以高纯物质人工配制校准标准样品，公共背景法进行背景校正，采用可变理论α影响系数法校正基体效应。方法的准确性、精密度达到了传统分析方法的要求，分析时间大大缩短，具有较好的实用价值。
熔片制样-X射线荧光光谱法测定煤灰样品中主次量组分
X射线荧光光谱法 煤灰 熔融片
2014/6/16
采用混合熔剂熔融制备样片，用Axios X射线荧光光谱仪测定煤灰样品中二氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、二氧化锰、五氧化二磷和三氧化硫等11种组分。重点研究了熔样比、熔样温度和标准样品的制备，解决了分析硫的难题。用基本参数法校正基体效应，分析方法的精密度（RSD，n=10）各组分均小于3%。用煤灰国家一级标准物质验证，结果与标准值相符。
熔片制样-X射线荧光光谱法测定煤灰样品中主次量组分
X射线荧光光谱法 煤灰 熔融片
2014/6/17
采用混合熔剂熔融制备样片，用Axios X射线荧光光谱仪测定煤灰样品中二氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、二氧化锰、五氧化二磷和三氧化硫等11种组分。重点研究了熔样比、熔样温度和标准样品的制备，解决了分析硫的难题。用基本参数法校正基体效应，分析方法的精密度（RSD，n=10）各组分均小于3%。用煤灰国家一级标准物质验证，结果与标准值相符。
熔融制片-X射线荧光光谱法测定磷矿石中主次量组分
X射线荧光光谱法 主次量组分 熔融片 磷矿石
2014/6/16
采用四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融制备样片，用Axios 型X射线荧光光谱仪测定磷矿石样品中五氧化二磷、氟、二氧化硅、三氧化二铝、总三氧化二铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、氧化锰、氧化锶和硫等13种组分。重点试验了熔样比、熔样温度和标样制备。用基本参数法校正基体效应，分析方法的精密度（RSD，n=10）除二氧化钛、氟和硫分别小于10.8%、6.0%及10.2%外，其余各组分均小于4....