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搜索结果: 1-15 共查到电子科学与技术 ZnO相关记录22条 . 查询时间(0.125 秒)
ZnO作为一种直接带隙宽禁带半导体材料,具有高达60 meV的激子束缚能,远高于室温热离化能(26 meV),因此,在室温下激子可以在ZnO中稳定地存在,是实现室温或者更高温度下的紫外自发与受激辐射的理想材料,在获得低域值、高品质因子的紫外激光上体现出十分突出的本征物理优势。此外,非中心对称的纤锌矿结构ZnO微纳米材料还具备特殊的压电性能,当材料受到外加应力时,晶体内部的离子极化引起介质介电常数的...
利用水热法制备了ZnO/ZnFe2O4纳米复合粒子。用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、光致发光光谱(PL)对退火前后的ZnO/ZnFe2O4纳米粒子进行表征。研究结果表明, 退火后的ZnO/ZnFe2O4纳米复合粒子表现出更好的形貌和晶体质量, 主要由六角纤锌矿结构的ZnO和立方结构的ZnFe2O4构成。PL光谱显示, 退火后ZnO近带边的发光强度明显降低, 这是由于ZnO/ZnF...
采用溶胶——凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明:晶粒尺寸随退火温度的升高而增大,与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符;UV\|Vis吸收谱线表明,在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收,并得到600℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV;室温光致发光谱表明,所有薄膜均在386.5nm处出现一个紫外发射峰,当退火温度升高时,深能级发射受到抑制。
采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明: 晶粒尺寸随退火温度的升高而增大, 与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符; UV\|Vis吸收谱线表明, 在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收, 并得到600 ℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV; 室温光致发光谱表明, 所有薄膜均在386.5 nm处出现一个紫外发射峰, 当退火温度升高时, 深能级发射受...
采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明: 晶粒尺寸随退火温度的升高而增大, 与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符; UV\|Vis吸收谱线表明, 在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收, 并得到600 ℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV; 室温光致发光谱表明, 所有薄膜均在386.5 nm处出现一个紫外发射峰, 当退火温度升高时, 深能级发射受...
We employed epi-GaN substrates for ZnO film growth, and studied the deposition and post-annealing effects. ZnO films were grown by pulsed laser deposition (PLD) method. The as-grown films were anneale...
ZnO nanorod arrays have attracted considerable attention as a candidate for fabricating gas sensors, dye-sensitized solar cells, and light emitting diodes (LEDs) in the last few years. Controlling the...
Vertically aligned ZnO nanowires have been successfully synthesized on annealed c-cut sapphire substrates by a catalyst-free nanoparticle-assisted pulsed-laser deposition (NAPLD) in Ar and N2 backgrou...
以ⅠA族元素钾(K)作为掺杂剂,利用射频磁控溅射沉积技术,在单晶Si(111)衬底上成功生长了K:p-ZnO薄膜.采用Hall测试仪、X射线衍射、原子力显微镜和X射线光电谱等测试分析技术,对其结构和电学性能进行了研究.结果显示,该p-ZnO薄膜呈现良好的(002)单重择优生长特性,当衬底温度为500℃,氧分压为30%时表面粗糙度仅为89.05nm,其相应的空穴浓度为5.45×1017/cm3,迁移...
近日,中国科学院微电子研究所微波器件与集成电路研究室(四室)依靠独立开发的全新技术,成功研制出国内首个ZnO纳米棒场效应晶体管。ZnO是一种新型宽禁带多功能半导体材料。ZnO纳米材料(纳米线、纳米棒、纳米带、纳米环等等)具有较常规体材料更为优越的性能,在传感、光、电等诸多领域有着广阔的应用前景,引起了国际学术界的极大关注。目前,国内的研究集中在材料生长和二极管器件制备方面。
近日,中科院微电子所依靠独立开发的全新技术,成功研制出国内首个ZnO纳米棒场效应晶体管。 ZnO是一种新型宽禁带多功能半导体材料。ZnO纳米材料(纳米线、纳米棒、纳米带、纳米环等等)具有较常规体材料更为优越的性能,在传感、光、电等诸多领域有着广阔的应用前景,引起了国际学术界的极大关注。目前,国内的研究集中在材料生长和二极管器件制备方面。 中科院微电子所张海英研究员领导的课题组,使用...
采用二乙基锌(DEZn)和水(H2O)作为生长源,利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的方法,在100~400℃低温范围内,在GaAs (001)衬底上制备了ZnO薄膜. 利用X射线衍射(XRD), 室温PL, AFM, SEM研究了薄膜的晶体结构特性、发光特性及表面形貌特性. XRD分析表明ZnO薄膜具有很强的c轴取向,(002)峰的FWHM平均值为0.3. .当生长温度达到400℃时从SEM...
ZnO基稀磁半导体材料研究进展          2008/3/5
ZnO基稀磁半导体材料研究进展。
采用热蒸发ZnO粉末法,以金膜为催化剂,在两片表面分别朝上和朝下的Si(100)基片上生长ZnO纳米线(样品分别标为1#和2#)。X射线衍射(XRD)图谱上只存在ZnO的(002)衍射峰,说明ZnO纳米线沿(001)择优取向。通过扫描电子显微镜(SEM)表征发现,ZnO纳米线整齐排列在Si基片上,直径在100 nm左右,平均长度为4 mm。通过分析得出,两种基片上生长的ZnO纳米线的生长机理是不相...
Au/n-ZnO/p-SiC紫外探测器的研制和特性分析。

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